失效分析，大有可为——华碧出席第20届IPFA国际大会
发布日期：2013-07-19
2013年7月18日晚，第20届IEEE国际集成电路物理与失效分析会议(IPFA 2013)在苏州金河国际酒店举行盛大的Dinner&Dinner Show，华碧检测CEO刘学森先生出席晚宴并做主题致辞，向现场嘉宾大展失效分析宏图，并分享了华碧在失效分析领域的探索成果。
华碧在近年来的发展中，一直定位于以失效分析为基础，深入诊断问题产品的质量与工艺、设计与缺陷，进行产品质量检测、产品失效定位、工艺失效分析，以及可靠性设计等，为客户的产品改善提供准确的分析报告与改善建议，帮助客户提升产品质量与市场竞争力。华碧的一体化解决方案模式，赢得了客户的肯定，也为失效分析技术的商业应用找到了更广阔的前景。刘学森在致辞中呼吁：失效分析对全社会的整个工业和工艺水平都意义深远！号召业界伙伴携手共创新的行业高度！
晚宴在颇具夏威夷风情的酒会氛围中进行，来自中国、美国、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国专家和业界代表120余人出席了本次Dinner Show，并进行了轻松愉快、深入友好的交流。
华碧检测CEO刘学森先生在IPFA2013 Dinner Show致辞
来自新加坡IPFA总部的Dr. JM Chin, AMD（左）与华碧检测CEO刘学森先生（右）亲切合影
轻松的酒会，愉快的相聚
