华碧又一发明专利获得授权：《集成电路缺陷定位测试系统》
发布日期：2013-04-22
从中国国家知识产权局获得的信息，华碧上海近日再获一发明专利授权，发明名称为《集成电路缺陷定位测试系统》，专利号为200810037221.0。
《集成电路缺陷定位测试系统》提供一种集成电路缺陷定位测试系统及实现方法，利用本发明,可直接对集成电路的各种不同类型缺陷,实现直观的物理位置缺陷定位功能,能够及时、准确地发现集成电路的缺陷,从而改进产品质量、加快研发速度、提高生产工艺水平。
华碧鉴定所通过技术研发和知识产权保护，目前多项专利填补了国内产品质量鉴定领域的技术空白。"
《集成电路缺陷定位测试系统》提供一种集成电路缺陷定位测试系统及实现方法，利用本发明,可直接对集成电路的各种不同类型缺陷,实现直观的物理位置缺陷定位功能,能够及时、准确地发现集成电路的缺陷,从而改进产品质量、加快研发速度、提高生产工艺水平。
华碧鉴定所通过技术研发和知识产权保护，目前多项专利填补了国内产品质量鉴定领域的技术空白。"
